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Une faille eSim met en danger deux milliards d’objets connectés

Une faille critique dans la technologie eSIM a été découverte par des chercheurs. Présente sur plus de deux milliards d’appareils IoT, cette vulnérabilité permet d’installer des programmes malveillants et de voler des données. La faille a été colmatée.

Pour aller plus loin, lisez cet article - Un contenu original publié sur ce site

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